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AC In/Out OS Slow Response
3 q- k( A- r* l; D4 s- Phenomenon
( c; x( _; F; ]* {
7 R; f' b1 n3 l. b, `- b! x手上一个超薄NB的案子DQA报了这样一条bug:频繁的插拔AC,vista右下角的power icon有时反应很慢,AC插拔过后有时需要等几秒或十几秒才发现power icon有变化。Power icon指的是下图红色圆圈标出的部分:& a3 g E7 b+ {2 _! j$ L7 [) p! `
, Y" f4 k8 ^ e. O0 R8 o
" Y) x5 ^6 o& b0 `5 R: q刚看到这条bug时,我有点不以为然,因为有些机种也有这样的状况,所以我以为这个有可能是不同的测试人员认知上差异。而且超薄NB为了解决好功耗、导热的问题都使用比较低的配置,我最初还觉得可能跟配置有关。但是他们找了个相同chipset的机器去试,反应很流畅没有这样的现象L!我的猜测站不住脚了,这时我觉得应该是FW有些地方没有处理好导致的了。随后我们开始debug,首先我们要理清AC in/out 过程中EC、BIOS、OS都做了哪些动作,我所知道的状况是这样:1. EC检测到AC in/out的中断,更新EC ram中的AC状态并引发SCI IRQ通知OS。2.OS收到SCI IRQ后调用BIOS中的_Q method并通过Notify function通知OS power source change。3.OS调用_PSR function获取AC的状态并据此更新power icon显示。上述過程sample code 如下述所示:; |5 h" Z# L: y4 d
// AC Change event8 x. ]% `! a" C' S& J) B
, R4 x. ]' q" D5 P5 s7 _ [: V
Method(_QXX)
+ I7 \: \! Y8 q0 q, S- z1 E5 [9 [4 y+ y0 |
* c' V7 F1 E+ Y" k& _{3 j+ M/ E& x3 T( \' z
; Y; u/ `+ A* ~+ Z7 F: C p
Store(0x09, DBG8)9 B6 M8 G3 s. l* h# l2 L
4 p& e5 m- B( bNotify(\_SB. ADP,0x80)
. k1 g1 R/ m) L; h# `//Power Source status changed
3 g% r" l6 N$ \% v* s% i# ~/ G! u' ?: u* i* w
Store(0x0A, DBG8)
& [$ @# e- {% j: ?0 y7 Z- |3 p 3 F& U6 c$ _1 b M5 L& t
4 ?+ ~2 n$ x+ X% \" S
}7 }3 ~/ d1 l1 y: f; M$ Y! s
' n7 j( {! x# o& \4 v: @# d
; L+ M* |; e. ^( {
3 ^* g+ v7 {; y# o
Method(_PSR,0)* I- r4 Z# P( m8 n" D# ?# w! |$ l
' G( X" C+ _$ S Y
( H* b) N. I( [+ Q2 `, z
{
3 l% _8 a5 v7 a7 ^4 r0 l+ |. f4 c( `- A. {6 p
' q$ i9 ]2 t+ C' @Store(0x0B, DBG8)* M0 Y- j- x2 q8 i3 x
3 l+ |) i1 g; O9 i- E
$ O( D- r. e) vIf(ACST)
& W/ R9 t7 o5 [- P) r' J5 ?//check AC status6 }) L% n' c0 r' h) X8 {7 Q
9 C. b) R6 f: C v" ~, m
{9 A- x% p# U" A6 j
4 L0 B9 j) `0 `$ r
9 _8 ~5 o8 Q; M; ~* s
return(One)
6 a& c+ h" s, n0 T: K// AC Present
: @+ ^, @) u; D# s# t9 p/ D9 b5 o
}
' x7 D, ]3 l4 B6 z. G; z5 A4 R3 I4 S3 B: e+ B% n; I9 ~
else
1 l4 T' `- A4 o6 H+ t: Q7 L) S; i; H5 M" T3 E+ \ q! k
{
* [( q* L, |' C6 W$ k; V4 O
* x/ W3 L% {; y) l k; Dreturn(Zero)
; z0 |$ J C: X z// AC Not Present4 f* H- d- \) o5 L+ P. I1 _/ I
# D' Y2 _4 w) s; i3 k}* k" S, _0 V7 z P
. y+ Q; K5 @- R; y4 OStore(0x0C, DBG8)
* I+ Y8 y# k( K6 }. @* E z- e a# L) v0 h' m& X/ c$ |
}
8 p# Q/ E) F. U+ o! O) t) l4 j
' M" N% S* N7 L/ m
( A" m8 U( ]' h" A: F我能猜到的大概的流程应该就是这样了。那我们就从头开始追,先在AC change qevent中抛点,可是发现AC change对应的_Q method反应很快,一旦AC in/out debug card马上就会有显示。那么说明什么呢?跟EC没有关系吗?接着抛,又发现有时停在’0x0A’比较久才会出现,有时’0x0C’比较久。 D+ u+ {; a1 v! D% r r2 o8 H
状况不太一致;没感觉就把网撒大点,在几乎所有的ACPI method中都抛上点然后再try,试了几个回合以后有感觉了,我们发现一旦现象出现在Device Battery _BST method中停的久的几率非常高,也就是说AC in/out OS还会更新battery的信息。这段代码最明显的特征就是它会从EC ram中获取非常多的电池信息,sample code如下所示:
& ?; r! x' e' ^+ UMethod(_BST)
& F1 k% q1 {# [/ t" Y{" L, j# s, o7 ~7 h1 k
, W8 b l' d* {8 ~1 a/ f' CStore(BSTS,Local0)
& F$ J5 S4 q/ X4 ]- ]
! Z5 ]" m0 p+ [ N( |' n* \* Y* M! s Y" i; x& e5 @5 G/ r
If(LEqual(Local0,1)) //Check Battery Present Bit
9 ?# A) j2 T3 d& a: P' @% a2 S
{7 J) \# p, R! u' T
! [( f: J3 }4 c4 Q
* J3 P1 q- n( x0 x2 t: o
6 e" R4 V; [) f7 R) x* Y! P6 d- o4 c: s2 T' E
* i, o: V8 S0 W; I" U//Read Battery information from EC- y) B! O$ H1 P5 G2 }
& \' W6 F$ m, F
… …' T, l" l8 N* V( X- D4 z5 F" [
' \+ f. i; ]9 W( c8 E3 O& c. `+ ~4 `# A
}
9 d2 O* E- T' T/ r$ Q, f; a; v0 `/ b6 n
Store(0x0D, DBG8)7 P7 p8 f! U4 c" A0 k
} ' n! ]( V3 w& @
那么问题好像是由读EC ram导致的,ACPI中读取EC内容的方式是发0x80 cmd到ox66 port,随后EC产生一个SCI通知OS,接着OS将EC ram index发给0x62 port,EC将数据送给0x62 port再产生一个SCI通知0S,接着OS读0x62 port就获得了EC ram指定位置的数据了。我在EC 端加入debug信息,发现出现状况时0x80 cmd EC很晚才收到,0x80 cmd是OS发的,所以貌似和EC也没什么关系吗?继续思考,EC产生一个SCI的目的应该是产生一个IRQ让ACPI driver获悉前面的指令已经完成,ACPI driver可以继续送指令下来了。如果某一条指令慢则有可能是前一个SCI IRQ通知 ACPI drive而 driver还没有处理好导致,也有可能ACPI driver已经处理好但是EC没有ready所致。9 H* }; C. p# ]) \4 a& E& {' c' ]4 e
那么SCI中断机制是怎样的呢?EC SCICFG register通常将SCI IRQ配置成HLH的pulse trigger,而且L的时间通常设置成64us,如下图2所示:! H' F: b4 M; R I
6 \# H" X' N. E2 @* f( c$ ^; N
# h1 N7 R( l- k3 l1 I) u7 ?$ o
而BIOS对SB SCI pin通常配置成low edge trig, SCI的pulse trig有个优点就是它能够自动复位,产生一个中断后SCI pin会pull high。可是因为BIOS是下降沿触发,所以EC SCI保持64us低电平会不会太长呢?会不会导致ACPI driver收到IRQ后下命令给EC,而EC SCI pin还没有复位而太久才收到?又或者说EC SCI pin保持低会影响到ACPI driver IRQ latency?有了这个想法以后,我就开始放大它,修改EC SCICFG将SCI IRQ配置成128 us pulse trig,然后再做AC in/out的实验,嘿嘿病情加重了,fail率接近了80%之前只有10%;那我再将pulse width调整为16us再试,结果200次竟然没有一次出现症状J.% D+ L ?5 b) }* c% w: r: d. G. J
9 S3 b4 c$ \$ L3 ^: D# c. h
7 I5 S6 v& Z; |2 U H2 L* h ? S$ R: P i% P% H7 r- B- l
经过上面的分析,大概的原因已经清楚了。所以解决问题的方法应该是调整SCI IRQ pulse width,将保持低电平的时间调短,这样就可以有效的避免这条bug。通过这条bug我发现在分析问题的过程中需要理清问题的各个环节,并且对各个环节所涉及到的细节也要深入分析。不能够看到现象就轻易的下结论,更不能想当然,正确的态度是不放过任何蛛丝马迹,大胆假设多方求证!& ]& Y# P8 f% ?& S9 z
* X0 a5 ^( T. s' w4 j A, ?
' D) m2 I+ W. H( @- S
6 w4 A3 |! a5 | 2 O: q7 x' w3 `8 L
That’s all!3 X( _5 o. i" m7 r5 [/ Q6 J+ p
* t1 b% G' }" \7 J8 sPeter |
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