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AC In/Out OS Slow Response H9 t3 k2 m8 ]1 E
- Phenomenon
/ r" k4 q7 S- t. J- e3 `
4 `0 A# L8 y. X/ H5 ?0 i( g* e手上一个超薄NB的案子DQA报了这样一条bug:频繁的插拔AC,vista右下角的power icon有时反应很慢,AC插拔过后有时需要等几秒或十几秒才发现power icon有变化。Power icon指的是下图红色圆圈标出的部分:* C1 \# e& l$ y& v2 F
% ~, {: p, q- }0 Q9 ^: Q2 `7 Y, C/ O: z7 N: ~4 A. b/ G7 V
刚看到这条bug时,我有点不以为然,因为有些机种也有这样的状况,所以我以为这个有可能是不同的测试人员认知上差异。而且超薄NB为了解决好功耗、导热的问题都使用比较低的配置,我最初还觉得可能跟配置有关。但是他们找了个相同chipset的机器去试,反应很流畅没有这样的现象L!我的猜测站不住脚了,这时我觉得应该是FW有些地方没有处理好导致的了。随后我们开始debug,首先我们要理清AC in/out 过程中EC、BIOS、OS都做了哪些动作,我所知道的状况是这样:1. EC检测到AC in/out的中断,更新EC ram中的AC状态并引发SCI IRQ通知OS。2.OS收到SCI IRQ后调用BIOS中的_Q method并通过Notify function通知OS power source change。3.OS调用_PSR function获取AC的状态并据此更新power icon显示。上述過程sample code 如下述所示:( S1 Z3 C r2 b# A5 ~
// AC Change event7 N9 I8 P$ U# e+ A
) L! G5 z/ [4 ?5 t' o9 X2 R+ F& [" gMethod(_QXX)
7 D% U3 ^6 [+ k* [( ^1 k* W! c9 T% e2 _7 C' A
{$ D k O. S& U r& d
5 ]' t+ Q" y- U0 h; W8 ?Store(0x09, DBG8)* [. E5 t) N, `3 ?7 b
+ M; n8 A! i' t! x# GNotify(\_SB. ADP,0x80)
: \- T( n. K% q) _7 |//Power Source status changed. k# w& ?, V5 k7 r4 W2 Z- B+ \
" b S6 ?% r" ^: j/ A* b+ WStore(0x0A, DBG8)
8 ~& [- D/ F; \. Z" Q5 R & _* `7 y0 Q+ \9 Q
& e% I4 \* q: |7 j, q: I$ _" |}- s4 X- `- ], r
* w7 ^9 P; g9 B/ Y) V$ c
! t% v2 U& i& n+ P% k+ r% o" k0 r$ o
Method(_PSR,0)
4 q' y# Y6 F! A, k# D+ Z9 H! C( Q8 y7 \
P2 O- X" e/ C0 p9 H% H: q7 m{1 P8 ?. [) x, R' P) F( F
# }$ Z) |, E" O
% u& V5 p7 R4 C$ |; n; t
Store(0x0B, DBG8)
O, N/ Q8 j2 i4 D
8 _: o; z" P) H I7 t! A$ M8 j
! b: s- H& \* M' ^ }If(ACST)* C+ S5 }, N; C" Q6 ^
//check AC status2 M& p: [# ~: X
6 a5 d4 I$ z* V/ o) N( _
{
1 e* o3 Q/ N Q- S) i: t- |7 w" Y) l( V5 @3 U' Y
$ y; I5 \) _5 K9 i/ g$ x# _return(One)
: @; q7 S5 `! ]/ b// AC Present; _- I' L3 `5 C4 d( e1 k
& z0 V u0 `$ s9 Q# h* v( j
}) v& e7 d$ ]2 R, n# G; Z: ^
' m2 e& C0 d) b: o) x/ d) l
else: S" H3 A, Q V4 K$ s: w
3 A8 J! n) B) D/ D{% D9 o0 T2 L. R* `: p
, M) I9 o+ o1 |. \9 G; _: V: B2 t
return(Zero)
) z7 Y: O' o1 W, Y: c, D// AC Not Present6 _* \8 |' z6 |: U
4 f0 f# I6 p+ `+ M! T% @3 f}( G; O! o* H: {, Z4 Q* S
% v$ G- G' L! M
Store(0x0C, DBG8)
, P8 t& z( N, H" [2 b+ _
2 V* s1 a" P' L7 j$ `! G+ q: w( i}
+ v# Q6 S5 P3 r; D" b2 V
. @4 Y; K4 K) u. R1 N: L, d& u# Z. F9 M5 T+ n
我能猜到的大概的流程应该就是这样了。那我们就从头开始追,先在AC change qevent中抛点,可是发现AC change对应的_Q method反应很快,一旦AC in/out debug card马上就会有显示。那么说明什么呢?跟EC没有关系吗?接着抛,又发现有时停在’0x0A’比较久才会出现,有时’0x0C’比较久。
* \6 e8 f! @7 F状况不太一致;没感觉就把网撒大点,在几乎所有的ACPI method中都抛上点然后再try,试了几个回合以后有感觉了,我们发现一旦现象出现在Device Battery _BST method中停的久的几率非常高,也就是说AC in/out OS还会更新battery的信息。这段代码最明显的特征就是它会从EC ram中获取非常多的电池信息,sample code如下所示:
6 l9 C% g8 D7 k$ cMethod(_BST)
& w# a/ s- S, \* N" {7 F{
8 q8 _: n( N s A
+ V: ^2 t, L2 [9 L, D( ]0 kStore(BSTS,Local0)# g7 L5 }1 e+ H4 J# o
2 ^9 |" o& z5 C) L& w* o$ a H6 u5 R! _% E4 b+ |3 X7 f
If(LEqual(Local0,1)) //Check Battery Present Bit* E. Y8 G" W/ u8 E/ [1 M. F
3 K7 A+ l: A8 u. A6 l9 G9 H
{
) d8 k! U* r- N; [8 Y+ \3 i1 k4 R9 ]4 ?; I8 L
4 l! K- h# l" C8 x) W9 O+ y' L
" e U2 u: k& J; a4 M) F8 \* ?- Y `, a! _. J
! n3 ~9 b. O* k' ~6 A! h$ Y- c% `
//Read Battery information from EC
4 T; _, Z1 s0 l$ i; Z
+ \+ ^7 a/ M. j+ _2 u- t1 [! M& @% r… …! c9 h9 x3 ~ `7 m/ W8 `" A7 f
7 ]2 s) z' Q: F, H
* U4 u# H4 \+ t5 \+ i* Q
}
7 h4 }1 A; H; r1 K8 B! X) q! F! Y6 e2 S; O* _3 N3 o9 D
Store(0x0D, DBG8)
9 Z/ y/ D B7 ^# ~6 g; b}
* K$ }" `& O; J* j那么问题好像是由读EC ram导致的,ACPI中读取EC内容的方式是发0x80 cmd到ox66 port,随后EC产生一个SCI通知OS,接着OS将EC ram index发给0x62 port,EC将数据送给0x62 port再产生一个SCI通知0S,接着OS读0x62 port就获得了EC ram指定位置的数据了。我在EC 端加入debug信息,发现出现状况时0x80 cmd EC很晚才收到,0x80 cmd是OS发的,所以貌似和EC也没什么关系吗?继续思考,EC产生一个SCI的目的应该是产生一个IRQ让ACPI driver获悉前面的指令已经完成,ACPI driver可以继续送指令下来了。如果某一条指令慢则有可能是前一个SCI IRQ通知 ACPI drive而 driver还没有处理好导致,也有可能ACPI driver已经处理好但是EC没有ready所致。7 v3 t! ^9 u* e7 W
那么SCI中断机制是怎样的呢?EC SCICFG register通常将SCI IRQ配置成HLH的pulse trigger,而且L的时间通常设置成64us,如下图2所示:% g5 t% S# y* U
8 X. T: f; e. a* g9 x+ o! h4 H3 H$ r& \5 Q7 I+ d1 u. C% J
而BIOS对SB SCI pin通常配置成low edge trig, SCI的pulse trig有个优点就是它能够自动复位,产生一个中断后SCI pin会pull high。可是因为BIOS是下降沿触发,所以EC SCI保持64us低电平会不会太长呢?会不会导致ACPI driver收到IRQ后下命令给EC,而EC SCI pin还没有复位而太久才收到?又或者说EC SCI pin保持低会影响到ACPI driver IRQ latency?有了这个想法以后,我就开始放大它,修改EC SCICFG将SCI IRQ配置成128 us pulse trig,然后再做AC in/out的实验,嘿嘿病情加重了,fail率接近了80%之前只有10%;那我再将pulse width调整为16us再试,结果200次竟然没有一次出现症状J.
& h+ K$ m1 l; ?* p) O / y' e1 ^$ M; c
1 D$ b- L2 A! x# D2 H8 A8 x# f* R7 o( F3 W' n0 ^
经过上面的分析,大概的原因已经清楚了。所以解决问题的方法应该是调整SCI IRQ pulse width,将保持低电平的时间调短,这样就可以有效的避免这条bug。通过这条bug我发现在分析问题的过程中需要理清问题的各个环节,并且对各个环节所涉及到的细节也要深入分析。不能够看到现象就轻易的下结论,更不能想当然,正确的态度是不放过任何蛛丝马迹,大胆假设多方求证!
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4 S% M1 Y0 Q4 ~* f5 j3 ~/ F! B- L) d3 j5 Y/ f7 ~$ A! r
7 ]! X) O) d& H3 H; fThat’s all!- P& E5 [+ n7 R4 L' e
( K, o% O- s8 X# O+ OPeter |
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